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    IC芯片反向分析

    IC芯片反向分析

    產品簡介:

    通過對芯片內部電路的提取與分析、整理,實現對芯片技術原理、設計思路、工藝制造、結構機制等方面的深入研究,擁有屬于自己獨特的芯片方向設計的手法與實戰技巧,能夠快速準確電

    產品詳情

    通過對芯片內部電路的提取與分析、整理,實現對芯片技術原理、設計思路、工藝制造、結構機制等方面的深入研究,擁有屬于自己獨特的芯片方向設計的手法與實戰技巧,能夠快速準確電路反向提取和高效的電路整理與分析,提供更優質的服務。
         長期致力于IC逆向分析、疑難器件替換、樣機制作、功能樣機調試等方面研究,有著豐富的經驗,逐步形成了集反向研發、正向設計、生產制造以及技術服務方案資詢為一體的多元化服務模式。
    主要服務有:
    FBIIC線路進行修改
        用FBI對芯片電路進行物理修改可使芯片設計者對芯片問題處作針對性的測試,以便更快更準確地驗證設計方案。若芯片部分區域有問題,可通過FIB對此區域隔離或改正此區域功能,以便找到問題得癥結。FBI還能在最終產品量產之前提供部分樣片和工程片,利用這些樣片能加速終端產品的上市時間。利用FBI修改芯片可以減少不成功的設計方案修改次數,縮短研發時間和周期。
    對單片機、CPLD、FPGA等進行逆向和安全分析
        對單片機和CPLD以及FPGA等芯片進行分析和測試,做逆向代碼提取以及安全漏洞的測試分析。用FBI在芯片特定位置作截面斷層,對材料的截面結構與材質,定點分析芯片結構缺陷。這樣可以幫助IC設計人員對IC設計性能分析。
    網表/電路圖提取與邏輯功能分析
        在芯片反向工程中,網表/電路圖提取的質量和速度直接影響后面整理、仿真和LVS等方面的工作。世紀芯在長期技術研究中已經成功總結了一套切實可行的規范和方法,可以提高質量高速度的提取各種類型電路的網表。
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